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產品簡介
SY-BX60便攜式玉米單株表型檢測系統可實現玉米植株無損傷非破壞性測量作業,,通過設備拍照完成目標識別并自動去除背景雜質干擾,執行一鍵分析后即可輸出多項植株形態參數:凸包面積、外接矩形面積、長寬比、側視角緊湊度、側視角投影面積、玉米株高、玉米穗位等關鍵表型指標。
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| 品牌 | 世亞科技 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 農林牧漁,綜合 |
SY-BX60便攜式玉米單株表型檢測系統 非破壞性活體測量玉米植株,無需取樣離體,即可完成全株表型高通量采集。系統集成圖像智能識別與拍照自動分析功能,能夠自動排除葉片重疊、土壤顆粒、光影干擾等非目標雜質,一鍵啟動分析后,即可同步獲取多項整體形態指標,包括:植株凸包面積、玉米自然株高、穗位高度、外接矩形幾何面積、植株長寬比、側視方向緊湊度指數,以及側視方向投影面積。 針對玉米果穗整體性狀,系統支持整穗自動解析,無需人工分段測量,即可精準計算果穗長度、穗軸粗度、禿尖長度、左右穗緣角與穗行角,同時輸出平均行粒數、粒厚均值、截面穗行數、穗粗與軸粗,以及果穗整體顏色特征及其各通道平均值,實現穗部性狀的全面數字化。 對于玉米果穗截面性狀,系統具備高效的截面批量分析能力,可同時測量單個果穗上最多15個不同截面位置,每個截面上均可提取粒長、粒寬、粒高及顏色值等細粒度參數,滿足對穗部縱向分布規律的定量研究。 在籽粒尺度上,系統提供精細化的粒型指標分析模塊,可對每一粒玉米籽粒進行獨立識別與計算,自動輸出單粒種子的粒長、粒寬、長寬比、投影面積和周長等基礎參數。基于全部籽粒的檢測結果,系統進一步匯總得到總粒數、千粒重與百粒重估算值、粒色分布,以及粒長、粒寬、長寬比、面積和周長的平均值與標準差。此外,系統支持半自動方式測定容重與水分含量,并可按設定規則對籽粒數據進行排序輸出,同時生成種子大小對比排列圖,便于直觀比較不同品種或處理間的粒型差異。 株高與穗位高數據由系統自動識別并數值化顯示,用戶也可根據實際觀測情況手動錄入作物其他農藝性狀信息,以wanshan單株或小區級別的數據記錄,滿足多樣化田間數據管理需求。 在局部器官尺度上,系統支持直接測量關鍵莖葉結構參數,包括莖稈節間距長度、節間莖粗、葉片長度、葉片彎曲角度、以及莖葉夾角等。由于整個測量過程無需破壞植株,因此可對玉米各生育時期進行連續追蹤與動態比較研究,為生長規律分析提供可靠數據支撐。 種子百粒重與千粒重均為系統自動計算輸出,無需人工數粒稱量,極大提高測定效率。 本系統具備高通量快速測量能力,單次拍攝后約10秒內即可完成全部圖像分析與參數計算,同步生成整體株型與局部器官的完整特征數據集,適用于大規模育種篩選及群體表型調查。 在抗倒伏力學表征方面,系統提供抗倒伏力曲線測量功能,可模擬多個不同傾斜角度下植株受力響應過程,尤其適用于模擬水平方向持續風吹作用下的力學行為,所得結果更貼近田間自然倒伏情境,為品種抗倒性評價提供更真實的參考依據。 圖像結果展示界面支持左右滑動切換,方便用戶在原圖、二值化處理圖及玉米骨架結構圖之間快速比對觀察,直觀呈現圖像處理各階段效果。 數據結果按照整體與局部兩個層級進行分類展示:整體層面輸出參考種群密度、凸包面積、外接矩形面積、長寬比、側視緊湊度、側視投影面積、株高、綠色程度指數及葉片總數;局部層面則分別展示各節間長度、各節莖粗、各葉長度、各葉著生高度、各葉彎曲度及各莖葉夾角數值,實現從宏觀到微觀的結構信息全覆蓋。 所有測量數據支持以統一表格形式集中展示,單張表即可完整呈現全部參數結果。同時支持多組實驗數據與對應圖像批量導出為Excel格式文件,便于后續統計分析。導出的數據可通過分享功能轉發至微信、QQ、釘釘等常用協作軟件,也可傳輸至電腦端進行深度處理。所有保存后的數據支持云端yongjiu存儲,確保數據安全與長期可追溯。 品種名稱管理方面,系統既支持逐個添加單一品種名稱,也支持批量導入多個品種名稱,提升品種信息錄入效率。數據管理功能涵蓋數據修正、條件查詢、內容編輯與多格式導出,便于用戶根據實際需要靈活處理數據,滿足科研、教學與育種實踐中的多樣化需求。
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